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日本KOSAKA小坂SE800A半導(dǎo)體表面粗糙度測(cè)量
產(chǎn)品型號(hào):半導(dǎo)體行業(yè)表面粗糙度測(cè)量機(jī)SE800A南寧
產(chǎn)品品牌:KOSAKA小坂研究所
產(chǎn)品介紹:

KOSAKA LABORATORY LTD小坂研究所自1950年創(chuàng)業(yè)以來,一直以使用精密工程學(xué)技術(shù)被信賴的“技術(shù)”為口號(hào),開發(fā)、銷售商品群。擁有以形狀測(cè)量機(jī)為中心的精密機(jī)器、以小坂研究所螺桿泵為中心的流體機(jī)器、以及半導(dǎo)體制造相關(guān)裝置、自動(dòng)包裝機(jī)等自動(dòng)設(shè)備三個(gè)領(lǐng)域。KOSAKA小坂螺桿泵,KOSAKA LABORATORY螺桿泵,KOSAKA小坂泵。小坂研究所泵。

詳細(xì)介紹


株式會(huì)社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年創(chuàng)立的公司,也是日本家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì),是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測(cè)定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測(cè)定部門為具代表性單位且在日本精密測(cè)定業(yè)占有一席無法被取代的地位。

設(shè)備特點(diǎn):

KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析,包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石(鉆石)探針接觸測(cè)量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。


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KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機(jī)  SEF580A、EF800.    SEF580A-G18D

KOSAKA小壇輪廓儀   EF550A、EF800

KOSAKA小坂臺(tái)階儀,膜厚儀,薄膜測(cè)厚儀KOSAKA小坂圓度儀,真圓度儀,圓柱度儀 

KOSAKA小坂測(cè)量?jī)x配件

KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測(cè)量裝置

KOSAKA小坂微細(xì)深孔測(cè)量裝置ET200A  、ET4000 、ET8000
KOSAKA小坂晶圓檢測(cè)裝置

KOSAKA小坂關(guān)節(jié)管測(cè)量?jī)x

KOSAKA小坂探針卡檢測(cè)設(shè)備

KOSAKA小坂高精度貼片機(jī)SS-N21    SS-L    SS-G41   SS-C   SS-R  SS-B

KOSAKA小坂傳感器


它可以按照 ISO、JIS、DIN、ASME 和 BS 等國際標(biāo)準(zhǔn)以及每個(gè)國家的新舊標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行測(cè)量。 為此,可以使用各種過濾器、截止值、測(cè)量長(zhǎng)度和計(jì)算方法。


  • 它符合每個(gè)國家/地區(qū)的標(biāo)準(zhǔn)。
  • 數(shù)據(jù)圖表可以自由布局。
  • 各種測(cè)量自動(dòng)化元件可以以任何方式組合起來,以執(zhí)行一系列測(cè)量操作。
  • 可以進(jìn)行更**的分析和篩選。
測(cè)量參數(shù) JIS(2001/94/82)、DIN、ISO、ASME
測(cè)量范圍 Z:600μm X:100mm
測(cè)量放大倍率 長(zhǎng)度:50~500,000 寬度:1~5,000
進(jìn)給速度 高速時(shí) 0.05~3mm/s *30mm/s
垂直移動(dòng)范圍 300 毫米
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