株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
設備特點：
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。
KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計，粗度儀EF800、SE800、3D
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機 SEF580A、EF800
KOSAKA小壇輪廓儀 EF550A、EF800
KOSAKA小坂臺階儀，膜厚儀，薄膜測厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀
KOSAKA小坂測量儀配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置
KOSAKA小坂微細深孔測量裝置ET200A 、ET4000 、ET8000
KOSAKA小坂晶圓檢測裝置
KOSAKA小坂關節(jié)管測量儀
KOSAKA小坂探針卡檢測設備
KOSAKA小坂高精度貼片機SS-N21 SS-L SS-G41 SS-C SS-R SS-B
KOSAKA小坂傳感器
KOSAKA小坂研究所，營業(yè)項目：自動車光電半導體精密測定機器，表面粗度測定機，微細形狀測定，輪廓形狀測定機，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機
營業(yè)項目適應行業(yè)：
表面粗糙度測量機：使用鉆石或是激光光學測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數。
微細形狀、臺階測量計：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細形狀、臺階、粗糙度測量
圓度、圓柱形狀測量機：測量發(fā)動機、缸體、活塞、曲軸、軸承等，具有圓度圓柱度、球形、平面形狀的工件，評估圓度、圓柱度、直線度、同軸度等形狀精度
輪廓測量機：以測針追蹤加工部件外形測量出輪廓，分析出輪廓各部位的角度，半徑、間隔、臺階、段差等等
配備分析宏，支持復雜分析工作的省力化。
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它是一種具有高度便攜性和安裝自由度的測量機。
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通過實時輸出功能，可以獲得測得的放大形狀數據。
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通過連接到輪廓形狀分析系統，可以進行更**的分析。
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測量精度
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Z：±（2.5+0.5×|H|） μm以下 H：位移 （mm） X：± （2.5 + 0.02 L） μm 以下 L：測量長度 （mm）
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分辨率
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Z：0.25 μm X 刻度：0.1 μm
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采樣次數/*小間隔
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*大 64,000 點 / *小 0.5μm
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測量范圍
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Z：30毫米 X：50毫米
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顯示放大倍率
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垂直（Z）、水平（X）：1~2,000次
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