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浙江總供HORIBA堀場(chǎng)在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ
產(chǎn)品型號(hào): UVISEL Plus In-Situ
產(chǎn)品品牌:HORIBA堀場(chǎng)儀器
產(chǎn)品介紹:

HORIBA堀場(chǎng)集團(tuán)向各行業(yè)領(lǐng)域提供高品質(zhì)的分析與測(cè)試儀器。我們的業(yè)務(wù)涉及汽車測(cè)試、科學(xué)儀器、過(guò)程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導(dǎo)體儀器等。我們已在全球市場(chǎng)展示出自己的優(yōu)勢(shì),尤其在汽車排放和煙道氣測(cè)量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質(zhì)控以及臨床診斷等領(lǐng)域。過(guò)去幾年來(lái),我們?nèi)〉昧碎L(zhǎng)足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測(cè)量業(yè)務(wù)為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻(xiàn),并為解決能源問(wèn)題助一臂之力。

詳細(xì)介紹

HORIBA堀場(chǎng)集團(tuán)向各行業(yè)領(lǐng)域提供高品質(zhì)的分析與測(cè)試儀器,49家分公司遍布全球27個(gè)國(guó)家。 

我們的業(yè)務(wù)涉及汽車測(cè)試、科學(xué)儀器、過(guò)程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導(dǎo)體儀器等。我們已在全球市場(chǎng)展示出自己的優(yōu)勢(shì),尤其在汽車排放和煙道氣測(cè)量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質(zhì)控以及臨床診斷等領(lǐng)域。過(guò)去幾年來(lái),我們?nèi)〉昧碎L(zhǎng)足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測(cè)量業(yè)務(wù)為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻(xiàn),并為解決能源問(wèn)題助一臂之力。我認(rèn)為正是這種自豪感促使我們提供更具競(jìng)爭(zhēng)力的產(chǎn)品。 

擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神,以充沛的體力和激情投入到工作中去,譜寫一個(gè)更加令人滿意的人生。我們將更加快樂(lè)過(guò)好每**的愿望融入企業(yè)哲學(xué),這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來(lái)一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場(chǎng)人(這樣稱呼的原因是我們把堀場(chǎng)集團(tuán)的所有員工都看成是一家人)是我們企業(yè)發(fā)展的源泉,他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學(xué),并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會(huì)做出貢獻(xiàn)。 

橢圓偏振光譜儀

薄膜表征的有效技術(shù)

橢圓偏振光譜是一種表面敏感、非破壞性、非侵入性的光學(xué)技術(shù),廣泛應(yīng)用于薄層和表面特征。它基于線偏振光經(jīng)過(guò)薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過(guò)模型擬合獲得厚度以及光學(xué)常數(shù)等。根據(jù)薄膜材料的不同,可測(cè)量的厚度從幾個(gè)?到幾十微米。橢圓偏振光譜是一種很好的多層膜測(cè)量技術(shù)。

橢圓偏振光譜儀可以表征薄膜的一系列特性,如膜厚、光學(xué)特性(n,k)、光學(xué)帶隙、界面和粗糙度厚度,薄膜組成,膜層均一性,等等。

橢圓偏振光譜適合分析的材料包括半導(dǎo)體、電介質(zhì)、聚合物、有機(jī)物和金屬。也可用于研究固-液或液-液界面。

HORIBA橢圓偏振光譜儀采用新型高頻偏振調(diào)制技術(shù),測(cè)試過(guò)程中無(wú)任何機(jī)械旋轉(zhuǎn)。與傳統(tǒng)橢偏儀相比,更快的測(cè)試速度、更寬的測(cè)量范圍以及更高的表征精度。

UVISEL PLUS橢圓偏振光譜儀//Auto SE - 自動(dòng)化薄膜測(cè)量工具//Smart SE- 功能強(qiáng)大,高性價(jià)比橢偏儀//UVISEL 2 VUV

真空紫外橢偏儀

//UVISEL Plus In-Situ

在線監(jiān)控橢偏儀

//大面積成像橢偏儀//在線橢偏儀



浙江總供HORIBA堀場(chǎng)在線監(jiān)控橢偏儀UVISEL Plus In-Situ


在線監(jiān)控橢偏儀

UVISEL Plus在線監(jiān)控橢偏儀可以很容易的安裝在各類反應(yīng)腔(PECVD、MOCVD、磁控濺射、蒸鍍、ALD和MBE),實(shí)時(shí)監(jiān)控薄膜沉積或刻蝕過(guò)程。

UVISEL Plus在線橢偏儀結(jié)合了速度快、靈敏度高、動(dòng)態(tài)范圍寬和準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn),使其能夠在原子層水平監(jiān)控沉積/刻蝕,即使過(guò)程速度比較快也可實(shí)現(xiàn)。

采用新型適配器組件可以實(shí)現(xiàn)臺(tái)式設(shè)備和在線系統(tǒng)的切換。

UVISEL Plus在線橢偏儀使用DeltaPsi2軟件驅(qū)動(dòng),該軟件適用于HORIBA所有橢偏儀。DeltaPsi2具有眾多先進(jìn)的建模和擬合處理功能,操作界面簡(jiǎn)單,可為研究者提供便捷的橢偏分析手段。先進(jìn)的通訊協(xié)議,TCP/IP和RS232已被設(shè)計(jì)用于生產(chǎn)環(huán)境和OEM。

  • 高速、準(zhǔn)確
  • 完整集成了實(shí)時(shí)測(cè)量、建模和報(bào)告軟件包
  • 便于在線和離線間切換

 

可獲得的信息

  • 薄膜厚度
  • 光學(xué)常數(shù)(n,k)
  • 材料組成
  • 光譜范圍:190-885 nm,可擴(kuò)展至 190-2100 nm
  • 光源:75W氙燈或150W氙燈
  • 探測(cè)系統(tǒng):?jiǎn)吸c(diǎn)或?qū)崟r(shí)光譜采集使用高靈敏度,寬動(dòng)態(tài)范圍的PMT探測(cè)器和掃描單色儀,原位監(jiān)控薄膜沉積/蝕刻
  • 光斑尺寸@300:50μm , 100μm & 1mm
  • 機(jī)械適配器:CF35或KF40法蘭