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國內(nèi)辦事處HORIBA堀場儀器在線橢偏儀
產(chǎn)品型號: 在線橢偏儀
產(chǎn)品品牌:HORIBA堀場儀器
產(chǎn)品介紹:

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器。我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們?nèi)〉昧碎L足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。

詳細介紹

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器,49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們?nèi)〉昧碎L足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產(chǎn)品。 

擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神,以充沛的體力和激情投入到工作中去,譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業(yè)哲學,這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人(這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人)是我們企業(yè)發(fā)展的源泉,他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學,并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會做出貢獻。 

橢圓偏振光譜儀:UVISEL PLUS橢圓偏振光譜儀//Auto SE - 自動化薄膜測量工具//Smart SE- 功能強大,高性價比橢偏儀//UVISEL 2 VUV真空紫外橢偏儀//UVISEL Plus In-Situ在線監(jiān)控橢偏儀//在線橢偏儀







原裝進口國內(nèi)辦事處HORIBA堀場儀器在線橢偏儀國內(nèi)總代各區(qū)域均有售有

UVISEL相位調制型光譜橢偏儀是一款可在線測量薄膜厚度和光學特性的設備,可為客戶聽過定制化交鑰匙工程。它的測試速度快,50ms即可獲得數(shù)據(jù),可有力的監(jiān)控整個膜的均勻性。

UVISEL的激發(fā)和收集頭設計非常容易耦合到輥對輥系統(tǒng)中,同時軟件具有先進的通信能力滿足輥對輥生產(chǎn)。

軟件便于操作人員控制。按鈕操作啟動流程,提供在線的薄膜厚度和光學特性信息以及可追溯的結果。通過使用UVISEL,保證了高生產(chǎn)率和低停機時間。開發(fā)的專屬算法確保在停電時也可得到可靠的數(shù)據(jù)。

針對使用輥對輥系統(tǒng)的柔性太陽能電池、柔性顯示器和照明以及柔性超高屏障的苛刻需求,UVISEL在線光譜橢偏儀保證了優(yōu)越的薄膜質量控制。

  • 超快速測試,可達50ms
  • 用戶友好
  • 可靠的數(shù)據(jù)
  • 集成簡單,多輥對輥加工能力

在線監(jiān)測薄膜厚度和光學參數(shù)(n,k)

  • 基底:PET、PEN、PI、PC、PA、TAC…
  • 薄膜材料:
    • 金屬薄膜:Ag、Al、Cr、Cu
    • 透明電極:ITO、AZO、i:ZnO
    • 聚合物、有機LED薄膜
    • 介質材料:Al2O3, SiN, SiO2, Ta2O2, TiO2, Nb2O5


    什么是橢偏光譜法(非數(shù)字描述)?

    橢圓偏振光譜是一種無損無接觸的光學測量技術,基于測量線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)發(fā)生的改變,通過模型擬合后得到薄膜、界面和表面粗糙層的厚度以及光學性質等等,可測厚度范圍為幾埃至幾十微米。而且,橢圓偏振光譜既能夠實現(xiàn)在線監(jiān)測又能進行原位測試,可根據(jù)各類不同的應用需要提供靜態(tài)和動態(tài)測量模式,應用非常廣泛。

    什么是橢圓偏振光譜 (數(shù)字描述)?

    橢圓偏振光譜儀可以測量橢偏角ψ 和 Δ 這兩個可以描述線偏振光經(jīng)過薄膜反射后的橢圓偏振光的狀態(tài)變化的參數(shù)。ψ 和Δ 與菲涅爾反射系數(shù)相關,滿足方程ρ=tanψeiΔ= rp/rs 。

    測量得到ψ 和Δ 后,必須建立一個薄膜的模型來確定厚度或者光學常數(shù)。

    如何確定使用哪個入射角度?

    通常,一個角度可以滿足大多數(shù)應用的需求。如果樣品非常薄,應該選擇接近基底布儒斷特角的角度系試,從而獲得*好的靈敏度和準確性。對于其他大多數(shù)樣品,將入射角沒為70(接近硅基底的布儒斷特角)就足夠了,不需要考慮基莊的布偶斯特角。

    什么時候需要多個入射角?

    一般來說。采用一個反射角就可以滿足大多數(shù)應用的需求。如果樣品非常復雜(多層、漸變、不均勻或者較厚),建議使用2 或3個入射角,這樣可以獲得大量數(shù)據(jù)從而減少參數(shù)間的關聯(lián)性影響,有助于更好地確定未知參數(shù)(厚度、光字性質、漸變性、非均一性等)。

    橢圓偏振光譜能夠測試在液體環(huán)境或者固液界面的樣品嗎?

    可以。橢圓偏振光譜能夠測試在液體環(huán)穩(wěn)中或者固液界面的樣品。我們提供了多種液體附件來測試這類樣品。