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日本HORIBA堀場納米拉曼光譜儀XploRA Nano
產品型號: XploRA Nano
產品品牌:HORIBA堀場儀器
產品介紹:

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器。我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們取得了長足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。

詳細介紹

HORIBA堀場集團向各行業(yè)領域提供高品質的分析與測試儀器,49家分公司遍布全球27個國家。 

我們的業(yè)務涉及汽車測試、科學儀器、過程和環(huán)境儀器、體外診斷和半導體儀器等。我們已在全球市場展示出自己的優(yōu)勢,尤其在汽車排放和煙道氣測量、空氣污染、水污染監(jiān)控、不同行業(yè)的質控以及臨床診斷等領域。過去幾年來,我們取得了長足發(fā)展。讓我們感到高興和自豪的是,我們的分析和測量業(yè)務為全球的環(huán)保、**和健康事業(yè)做出貢獻,并為解決能源問題助一臂之力。我認為正是這種自豪感促使我們提供更具競爭力的產品。 

擁有自豪感和勇于挑戰(zhàn)的精神,以充沛的體力和激情投入到工作中去,譜寫一個更加令人滿意的人生。我們將更加快樂過好每**的愿望融入企業(yè)哲學,這一精神自企業(yè)創(chuàng)建以來一直代代相傳。遍布全球的大約7,000名堀場人(這樣稱呼的原因是我們把堀場集團的所有員工都看成是一家人)是我們企業(yè)發(fā)展的源泉,他們能夠正確理解“新奇、有趣”這一企業(yè)哲學,并在日常工作和生活中很好地貫徹。 

我們將一如既往地以自豪的態(tài)度和勇于迎接挑戰(zhàn)的精神為社會做出貢獻。 


XploRA Nano


納米拉曼光譜儀

這是一套基于業(yè)界**的掃描探針顯微鏡SmartSPM和 XploRA plus的耦合系統(tǒng)。

XploRA Nano系統(tǒng),緊湊、全自動、易于使用,這是一套已經得到證實了的經濟適用的高度集中原子力顯微鏡-拉曼的全功能系統(tǒng),它幫助大家實現(xiàn)TERS成像。

多樣品分析平臺

宏觀、微觀和納米尺度的測量可以在同一個平臺上進行

簡單易用

全自動操作,在幾分鐘內即可開始測量,而不是幾小時!

真正的共聚焦

高空間分辨率,自動樣品臺,全顯微鏡可視化。

高收集效率

頂部和側向拉曼光譜檢測都可以獲得高分辨和高通量測量同區(qū)域和針尖增強光譜測量(TERS和TEPL)

高光譜分辨率

高光譜分辨能力,多光柵自動切換,寬光譜范圍的拉曼和光致發(fā)光分析。

高空間分辨率

針尖增強的納米級光譜分辨率(優(yōu)于10nm)

豐富的光學光譜(拉曼和光致發(fā)光)

多技術/多環(huán)境

結合TERS/TEPL化學成像的多模式SPM技術包括AFM、導電和電學模式(cAFM、KPFM)、STM、液池和電化學環(huán)境。一個工作站和強大的軟件即可對兩臺儀器進行完全控制,SPM和光譜儀可以同時或獨立操作。

堅固性/穩(wěn)定性

高共振頻率AFM掃描器,遠離噪音干擾!高性能表現(xiàn),無需主動隔振系統(tǒng)。


SmartSPM掃描器和基座

閉環(huán)平板掃描器: 100 μm x 100 μm x 15 μm (±10 %)

掃描器非線性:XY≤0.05 %; Z≤0.05 %

噪聲水平:XY≤0.1 nm RMS(200 Hz帶寬,電容傳感器打開);XY≤0.02 nm RMS(100 Hz帶寬,電容傳感器關閉);Z<0.04 nm RMS (1000 Hz帶寬,電容傳感器開)

高頻掃描器:XY≥7 kHz; Z≥ 15 kHz

X, Y, Z自動趨近:XYZ數(shù)字閉環(huán)控制,Z向馬達趨近距離18mm

樣品尺寸:40 mm x 50 mm x 15 mm

樣品定位:自動樣品臺范圍:5 mm x 5 mm

定位精度:1μm

AFM測試頭

激光波長:1300nm(光譜檢測器無干擾)

激光準直:全自動懸臂—光電二極管激光準直

探針通道:為外部操作和探針提供自由通道

SPM測量模式

標準模式:接觸模式、半接觸模式、非接觸模式、相位成像模式、側向力模式(LFM)、力調制模式、磁力顯微鏡模式(MFM)、開爾文探針模式(表面電勢,SKM,KPFM)、掃描電容模式、靜電力顯微鏡模式(EFM)、力曲線測量、壓電響應模式(PFM)、納米蝕刻、納米操縱

升級模式:溶液環(huán)境接觸模式、溶液環(huán)境半接觸模式、導電力顯微鏡模式、STM模式、光電流成像模式、伏安特性曲線測量等

光譜模式

共聚焦拉曼、熒光和光致發(fā)光光譜和成像

針尖增強拉曼光譜(AFM,STM等)

針尖增強熒光

近場光學顯微鏡和光譜(NSOM/SNOM)

導電力AFM(選購)

電流范圍:100fA~10μA;三檔量程自動切換(1 nA, 100 nA 和 10 μA)

光路耦合通道

頂部和側向能夠同時使用消色差物鏡:從頂部或側向*高可用100X,NA0.7物鏡;可同時使用20倍和100倍

長期光譜激光穩(wěn)定對準的閉環(huán)壓電物鏡掃描器:20μm x 20μm x 15μm;

分辨率:1nm

光譜儀

全自動緊湊型XploRA Plus顯微光譜儀,可獨立使用顯微拉曼光譜儀

波長范圍:75cm-1至4000 cm-1

光柵:四光柵自動切換(600, 1200, 1800 and 2400 g/mm)

自動化:全自動,軟件控制操作

檢測器

全光譜范圍CCD和EMCCD檢測器。

光源

典型波長:532nm、638nm、785nm;其它波長可根據(jù)需求提供

自動化:全自動,軟件控制操作

軟件

集成軟件包,包括全功能SPM、光譜儀和數(shù)據(jù)采集控制、光譜和SPM數(shù)據(jù)分析和處理套件,包括光譜擬合、去卷積和濾波,可選模塊包括單變量和多變量分析套件(PCA、MCR、HCA、DCA),顆粒檢測和光譜搜索功能。