株式會(huì)社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計(jì)，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動(dòng)/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
設(shè)備特點(diǎn)：
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析應(yīng)用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。
KOSAKA小坂粗糙度儀，粗度計(jì)，粗度儀
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機(jī)
KOSAKA小壇輪廓儀
KOSAKA小坂臺(tái)階儀，膜厚儀，薄膜測厚儀KOSAKA小坂圓度儀，真圓度儀，圓柱度儀
KOSAKA小坂測量儀配件
KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置
KOSAKA小坂微細(xì)深孔測量裝置
KOSAKA小坂晶圓檢測裝置
KOSAKA小坂關(guān)節(jié)管測量儀
KOSAKA小坂探針卡檢測設(shè)備
KOSAKA小坂高精度貼片機(jī)
KOSAKA小坂傳感器
KOSAKA小坂研究所，營業(yè)項(xiàng)目：自動(dòng)車光電半導(dǎo)體精密測定機(jī)器，表面粗度測定機(jī)，微細(xì)形狀測定，輪廓形狀測定機(jī)，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機(jī)
營業(yè)項(xiàng)目適應(yīng)行業(yè)：
表面粗糙度測量機(jī)：使用鉆石或是激光光學(xué)測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細(xì)凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數(shù)。
微細(xì)形狀、臺(tái)階測量計(jì)：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細(xì)形狀、臺(tái)階、粗糙度測量
圓度、圓柱形狀測量機(jī)：測量發(fā)動(dòng)機(jī)、缸體、活塞、曲軸、軸承等，具有圓度圓柱度、球形、平面形狀的工件，評(píng)估圓度、圓柱度、直線度、同軸度等形狀精度
輪廓測量機(jī)：以測針追蹤加工部件外形測量出輪廓，分析出輪廓各部位的角度，半徑、間隔、臺(tái)階、段差等等
非接觸式測量允許在不損壞樣品的情況下進(jìn)行測量。 緊湊的光學(xué)布置可以測量內(nèi)徑的表面紋理，這是現(xiàn)有非接觸式探測器難以實(shí)現(xiàn)的。
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由于檢測到與焦點(diǎn)的偏差量，因此沒有根據(jù)形狀移動(dòng)的部分，因此可以進(jìn)行高速測量。
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由于激光的光強(qiáng)度可以分 20 級(jí)改變，因此甚至可以測量低反射率的工件。
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自動(dòng)停止功能可自動(dòng)將探測器移動(dòng)到焦點(diǎn)，無需對(duì)焦
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測量范圍
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12~500微米
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分辨率
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0.2~0.5納米
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光斑直徑在測量范圍內(nèi)
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約1~25μm
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測量精度
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1%+0.03微米
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重復(fù)性
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10納米
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激光
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*大輸出 2 mW、635 nm、Class 1 （JIS C 6802：2011）
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