株式會社小坂研究所(KOSAKA)是于 1950 年創(chuàng)立的公司,也是日本一家發(fā)表光學杠桿表面粗糙度計,是一家具有悠久歷史與技術背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。
KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供**的形貌分析,包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石(鉆石)探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。
KOSAKA小坂粗糙度儀,粗度計,粗度儀
KOSAKA小坂粗糙度輪廓一體機
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KOSAKA小坂非接觸式表面形貌測量裝置
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KOSAKA小坂高精度貼片機
KOSAKA小坂傳感器
它能有效地處理表面粗糙度、波紋度測量和臺階測量。 它支持多種參數,可以同時分析多個標準。 它是一種精密、緊湊和高性能的測量機,具有高度的可擴展性,適用于所有應用。
測量參數 | JIS(2001/94/82)、DIN、ISO、ASME |
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測量范圍/分辨率 | Z:800微米/0.08納米 |
*大測量長度 | X:55毫米 |
測量放大倍率 | 垂直:50~200,000,自動寬度:1~1,000,自動 |
探測器 | PU-A4,測針更換,標準測針:R2μm 60° |
組合 | 從便攜式到固定式的 7 種型號 |