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博曼Bowman Micro XRF 測量*小電子產(chǎn)品測厚儀W系
產(chǎn)品型號：W系列
產(chǎn)品品牌：Bowman美國博曼
產(chǎn)品介紹：

美國博曼（Bowman）是高精度臺式鍍層測厚儀供應(yīng)商，擁有近40年的行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。博曼XRF系統(tǒng)搭載擁有自主知識產(chǎn)權(quán)的鍍層檢測技術(shù)和先進(jìn)的軟件系統(tǒng)，可精準(zhǔn)高效地分析金屬鍍件中元素厚度和成分。XRF系統(tǒng)可同時測量包含基材在內(nèi)的五層元素，其中任何兩層元素可以是合金。同時，博曼XRF系統(tǒng)也可以測量高熵合金HEAs博曼XRF鍍層測量系統(tǒng)滿足業(yè)界對精度，可靠性和易用性的嚴(yán)格要求。

詳細(xì)介紹



W系列微型XRF 使用多毛細(xì)管光學(xué)器件將X射線束聚焦到7.5 μm FWHM，這是使用XRF技術(shù)進(jìn)行涂層厚度分析的世界*小的光束尺寸。 這使其非常適合測量樣品，例如BGA和較小的焊料凸點(diǎn)。 使用140倍放大倍率相機(jī)來測量該比例的特征； 它配有輔助的低倍率輔助相機(jī)，用于實(shí)時查看樣本和鳥瞰宏觀圖像。 Bowman的雙攝像頭系統(tǒng)使操作員可以看到整個零件，單擊圖像以使用高磁攝像頭進(jìn)行縮放，然后**定位要編程和測量的功能。

每個軸**到小于+/-1μm的可編程XY平臺用于選擇和測量多個點(diǎn); Bowman模式識別軟件和自動對焦功能也可以自動執(zhí)行此操作。 系統(tǒng)的3D映射功能可用于查看諸如硅晶片的部件上的涂層的形貌。

W系列儀器的標(biāo)準(zhǔn)配置包括7.5μm鉬靶光學(xué)結(jié)構(gòu)（可選鉻和鎢）和高分辨率、大窗口硅漂移探測器，該探測器每秒可處理超過2百萬次計數(shù)。

W 系列微型 XRF 是 Bowman XRF 儀器套件中的第 7 個型號。 與產(chǎn)品組合中的其他產(chǎn)品一樣，它同時測量多達(dá) 5 個涂層并運(yùn)行先進(jìn)的 Archer 軟件以根據(jù)檢測到的光子量化涂層厚度。 Archer 軟件將直觀的視覺控制與省時的快捷方式、廣泛的搜索功能和“一鍵式”報告相結(jié)合。 該軟件還簡化了用戶創(chuàng)建新應(yīng)用程序的過程。




  

  


產(chǎn)品規(guī)格

X射線管： 50 W Mo 目標(biāo) Flex-Beam 毛細(xì)管光學(xué)器件 @7.5 FWHM 在 17 KeV
可選：Cr或W
探測器： 優(yōu)于135eV分辨率的大窗口硅漂移探測器
輸出焦深： 固定為0.08英寸（2.03毫米）
工作環(huán)境： 溫度介于68°F（20°C）與77°F（25°C）之間，相對濕度小于98％，無冷凝
重量： 190kg（420lbs）
可編程XYZ平臺： XYZ行程：300毫米（11.8英寸）x 400毫米（15.7英寸）x 100毫米（3.9英寸）
XY桌面：305mm（12“）x 406mm（16”）
X軸準(zhǔn)確度：2.5um（100u“）; X軸**度：1um（40u“）
Y軸準(zhǔn)確度：3um（120u“）; Y軸**度：1um（40u“）
Z軸準(zhǔn)確度：1.25um（50u“）; Z軸**度：1um（40u“）
元素測量范圍： 13號鋁元素到92號鈾元素
分析能力： 5層（4層+基材）每層分析10種元素，
成分分析*多可同時分析25種元素
濾波器： 4位置一次濾波器
數(shù)字脈沖處理： 4096 多通道數(shù)字處理器，自動死時間和逃逸峰校正
處理器： 英特爾，酷睿i5 3470處理器（3.2GHz），8GB DDR3內(nèi)存，
微軟 Windows 10專業(yè)版，64位
相機(jī)： 1/4''（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率
視頻放大倍率： 140X 微型、7X 數(shù)字變焦、9X 微距和表格視圖
電源： 150W，100?240V; 頻率范圍為47Hz到63Hz
尺寸（高 x 寬 x 深）： 樣品倉尺寸：100mm（4“）x 914mm（36”）x 735mm（29“）
外形尺寸：787mm（31“）x 940mm（37”）x 990mm（39“）
其他新特征： Z軸防撞陣列
自動聚焦和自動鐳射
模式識別
先進(jìn)的自定義數(shù)據(jù)調(diào)用

X射線管 G系列 B系列 P系列 L系列 K系列 O系列 M系列 W系列 一系列的
陽極靶材 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠 鎢/鉻/鉬/銠
X射線照射方式 由下往上 由上往下 由上往下 由上往下 由上往下 由上往下 由上往下 由上往下 由上往下
探測器
SDD硅漂移探測器 普通 普通 普通 普通 普通 普通 無 無 無
大窗口硅漂移探測器 可選 可選 可選 可選 可選 可選 普通 普通 普通
光斑尺寸
單個準(zhǔn)直器 普通 普通 無 無 無 無 無 無 無
多個準(zhǔn)直器 無 可選 普通 普通 普通 無 無 無 無
毛細(xì)管光學(xué)結(jié)構(gòu) 無 無 無 可選 即將推出！ 80um 15um 7.5um 7.5um
焦距
聚焦激光/自動聚焦 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通
單個固定焦距 普通 普通 無 無 無 普通  普通 普通 普通
可變焦距 無 可選 普通 普通 普通 無 無 無 無
視頻放大倍率
30X 微型 普通 普通 普通 普通 普通 無 無 無 無
55X 微型 可選 可選 可選 可選 可選 普通 無 無 無
140X 微型 無 無 無 無 無 無 普通 普通 普通
7倍數(shù)碼變焦 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通 普通
9X 微距 無 無 無 無 無 無 普通 普通 普通
表格檢視 無 無 無 可選 可選 無 普通 普通 普通
平臺&外形尺寸
Z軸控制方式 自動表 自動表 自動表 自動表 自動表 自動表 自動表 可編程 可編程
Z軸行程 1" 5.2" 5.2" 10" 9" 5.2" 5.2" 3.9" 3.9"
基值 無 固定 可編程 可編程 可編程  可編程 可編程 可編程 可編程
標(biāo)準(zhǔn)XY行程 無 無 5 × 6" 10 × 10" 12 × 12"  5 × 6" 6.5 × 6.5" 12 × 16" 23 × 23"
可選XY行程 1.5 × 1.5" 無 10 × 10" 無 無  10 × 10" 無 無 無
可選的Max XY Travel 無 無 16 × 16" 無 無  16 × 16" 16 × 16" 無 無
平臺精度 無 無 0.0004" 0.0004" 0.0002" 0.0004" 0.0001" 40u” 40u”
樣品倉尺寸（高*寬*深） 4x13x12“ 5.5x12x13“ 5.5x12x13“ 11x22x24“ 24x24x9“ 5.5x12x13“ 5.4x12x13“ 4x29x36“ 4x55x58“
總重量
25kg 34kg 52-70kg 110kg 120kg 52-70kg 70kg 190kg 1000kg