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YAMADA山田光學(xué)YP-150I, YAMADA山田光學(xué)YP-250I鹵素?zé)艄庠囱b置宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。YAMADA山田光學(xué)YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片YP-150I照度范圍φ30
YAMADA山田光學(xué)YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片YP-250I照度范圍φ60YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白.

YAMADA山田光學(xué)YP-150I   YP-250I鹵素?zé)艄庠?/span>


宏観観察用的照明設(shè)備，可検測各種缺陥如半導(dǎo)體晶片及液晶基板制品表面的異物、刮痕、拋光不均、霧狀、劃傷等。

 YP-250I鹵素?zé)艄庠?/span>

產(chǎn) 品 簡 介
YP-150I對應(yīng)檢查6寸半導(dǎo)體晶片
YP-150I照度范圍φ30
YP-250I可對應(yīng)檢查8英寸半導(dǎo)體晶片
YP-250I照度范圍φ60
YP-250I鹵素?zé)敉L(fēng)機(jī)可選擇螺旋式風(fēng)扇或者管道通風(fēng)型
根據(jù)具體要求可以選擇黃光和白光兩種光源
可檢測各種缺陷 如硅片 砷化鎵   碳化硅等半導(dǎo)體晶片及液晶基板表面的異物/劃痕 /拋光不均 /
霧狀/ 劃傷等 ，照度在400000Lx以上

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產(chǎn) 品 特 點(diǎn)
1. 大于   400,000luxes的照明光線可容易檢測出只有精密探測儀才可測出的瑕疵。(照射面積為 30mmdia).
2.   使用鹵素?zé)糇鳛楣庠矗珳馗哌_(dá)3400K，照光和顏色均一了穩(wěn)定強(qiáng)光的照射。
3. 由于冷鏡的使用，使得熱影響與常規(guī)鋁鏡相比較少1/2   到 1/3
4. 光束直徑由鏡片調(diào)整30-50mm 之間調(diào)整
5. 底部開光，調(diào)整照明勘察器高度，操作簡便，可控制光量

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產(chǎn) 品 用 途
YP-150I 高亮度鹵素射鏡用于Si薄片，玻璃表面的瑕疵檢查的照明光源，微小瑕疵也可被檢測出來